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孔铜测厚仪的测量方式步骤介绍
发布时间:2018-08-23   点击次数:68次
  孔铜测厚仪的测量方式步骤介绍
  1、利用向上和向下箭头键显亮所选的校准次数。按下ENETR键后进入界面再选择按下MEASURE、GO或ENTER键。
  2、在选择的校准次数之后按下MEASURE、GO或ENTER键,然后再按下ENTER键。所有测量根据此界面内容进行,可以进行统计选项选择(保存或对话形式),也可以选择显示样式,还可以打印读数或图形。测量由下列四种方式中的一种实现。并非所有方式对任何情况都适用。
  1)自动模式--自动获取读数。
  a)将孔铜测厚仪探头与被测样本接触。
  b)保证探头与样本的接触,直到听见警笛信号声。此时界面上将显示读数,并储在内存中。
  c)按下CLEAR(清除)键清除读数,若有必要,还可清除内存。
  2)手动模式--手动按下GO功能键捕获读数。
  a)将探头与被测样本接触。
  b)按下GO键进行一次测量,并将数据储在内存中。
  c)按下CLEAR(清除)键清除读数,若有必要,还可清除内存。
  3)连续模式--连续获取读数并显示出来
  a)将探头与被测样本接触。
  b)界面上连续显示读数信息。
  c)按下GO键将zui后一个显示读数储在内存中。
  d)进行校准时,若探头悬空,显示出来的将是6条划线,表示超出指定的读数范围。若校准中使用硬镀层标准,将会显示一串无意义的号码。
  4)扫描模式--在样本某区域上方进行读数,显示平均值。
  a)用于测量而进行校准时所规定的按测量读数大于1个时,不能进入扫描模式。
  b)将孔铜测厚仪探头与被测样本接触,并保持接触,将探头围绕想要扫描的样本区域移动。
  c)扫描时间范围值在0~10秒之间。若规定为0,扫描模式无法启动。在使用扫描模式的时候,应注意所有新校准的缺省值都为0,必须进行修改。
  d)校准时,根据“扫描时间”参数中设定的时间长度,每秒应进行两次读数。
  e)扫描进行的同时,将显示剩余的读数次数。
  f)若扫描未结束,而探头就脱离了表面,这时,扫描顺序将中断。
  g)扫描结束后,对所有读数应算出平均值,结果显示在界面上。在限定值之外的读数也将接受,并将其计入总体平均值中。
  h)只有合成平均值才能使用。
  i)按下CLEAR(清除)键清除读数,若有必要,还可清除内存。
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